氟掺杂CdS缓冲层

诱导Sb₂Se₃择优取向

通过氟钝化硫空位并暴露非极性面,引导Sb₂Se₃沿高迁移率方向生长,同时大幅降低缺陷密度。

Shen, Luyang · Qin, Deyang · Nie, Er · 陈少强 · Tao J.

Advanced Functional Materials 2026

参数信息

缺陷俘获截面
10⁻²⁰
Se/Sb比值
1.63
器件效率
9.30 %

技术优势

缺陷俘获截面降三个数量级

氟离子有效钝化CdS中的硫空位,使俘获截面从10⁻¹⁷降至10⁻²⁰,载流子复合损失大幅减少。

诱导Sb₂Se₃择优取向

F掺杂使CdS暴露非极性(100)面,引导Sb₂Se₃沿高迁移率方向生长,提升载流子传输。

Se/Sb比更接近理想值

F掺杂优化Sb₂Se₃生长动力学,使Se/Sb比从1.98降至1.63,减少深能级缺陷。

效率提升18%

器件效率达到9.30%,较未掺杂器件相对提升18%,展现出界面工程的实际增益。

应用场景