充电器件型ESD测试仪

高灵敏自动分级

针对充电器件模型实现高精度、自动化的静电放电灵敏度测试，可通过不同引脚区分封装与功能的影响。

Minfeng, Xia · 万发雨 · Ravelo, Blaise · Zhang, Yu · Gaofeng, Mei · Yingqian, Liu · Xiaohe, Chen

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2025

参数信息

微控制器型号

STM32

技术优势

波形更真实

经验等效电路参数让仿真放电信号接近实测，设计阶段就能预估引脚级CDM行为。

自动完成测试

基于STM32®的软硬件系统实现高精度、自动化的ESD灵敏度分级，人工干预少。

引脚级分析

实测发现放电信号受封装结构和引脚功能影响，测试仪能定位不同引脚的ESD薄弱点。

应用场景

• 芯片ESD防护设计：设计阶段定位引脚级ESD薄弱点，定向加固防护电路。
• 电子元器件可靠性测试：快速自动化分级，替代人工波形判读，提升批量筛选效率。
• 精密仪器与测量：用等效电路参数校准测试仪，输出与实测接近的放电波形。
• 物联网设备质量检测：产线上按引脚功能抽检CDM抗扰度，筛出易损物联网模组。