零热淬灭
利用晶体缺陷作为电子陷阱,在升温时补偿发光损失,实现303–383 K范围内的零热淬灭,解决LED高温稳定性难题。
Ling, Shaokun · Xiaoyan, Qin · Chen, Chang · Kai, Meng · Yan, Yifeng · Ming, Junyu · 廖森 · 黄映恒 · Hou, Lei
Journal of Alloys and Compounds 2023
303–383 K范围内零热淬灭
WLED的CRI为84.1
WLED的CCT为3830 K