CDI功能测试生成器

最后一英里覆盖率大增

利用机器学习特征选择与生成对抗网络，自动生成满足复杂约束的测试输入，大幅提升难覆盖功能点的覆盖。

Yan, Ming · 陈俊洁 · Mao, Hangyu · Jiang, Jiajun · 郝建业 · Xingjian, Li · Tian, Zhao · Zhichao, Chen · Li, Dong · Xian, Zhangkong · Yanwei, Guo · Liu, Wulong · Wang, Bin · Yuefeng, Sun · Yongshun, Cui

2023

参数信息

Last-mile功能覆盖率提升

49.27 %

Last-mile功能覆盖率提升

75.09 %

测试时间节省

94.24 %

测试时间节省

84.45 %

技术优势

不靠领域知识

LMT无需了解芯片设计内部信息或领域知识即可提升难覆盖功能点，降低了使用门槛，可快速应用于不同设计。

节省大量测试时间

达到相同功能覆盖率时，LMT在两个工业案例上分别节省至少94.24%和84.45%的测试时间，显著缩短验证周期。

生成有效输入

通过GAN学习变量间的复杂约束，LMT能以更高概率生成满足约束的有效测试输入，减少无效测试用例。

应用场景

• 芯片设计验证：在流片前自动覆盖验证中难以触达的功能点，减少设计缺陷逃逸。
• 硬件设计测试：生成满足复杂约束的有效测试输入，提升硬件设计测试的覆盖率和效率。
• EDA工具：可作为EDA流程中的测试生成组件，无需领域知识即可集成。