单次校准测多涂层
通过谐振频率与涂层厚度的线性关系,在CFRP等不同基底上仅需一次校准即可测量未标定材料或多层涂层厚度。
Jiaxing, Fan · 孟召宗 · 李真
NDT and E International 2026
线性关系不受涂层材料类型影响,在同一基底上校准一次后,即可测量未标定的涂层材料和多层涂层叠加的厚度。
对多种模拟涂层材料的测量误差均小于2%,满足工程检测的精度要求。
通过高介电常数介质将圆柱腔小型化,并集成厚度预测软件,可自动提取谐振频率并实时显示厚度值。