脉冲激光SET标测

电路级软错误成像

面向28 nm UTBB-FDSOI工艺，提供SET敏感区分布与脉宽展宽特性的实验标测，为抗辐射加固设计提供定位依据。

陈锐 · Chen L. · Li, Sai · Liu, Rui · Li, Xuantian · Shi, Shuting · Gu, Cheng · 韩建伟

Electronics (Switzerland) 2023

技术优势

定位敏感区域

通过脉冲激光扫描获得版图上SET敏感区分布，设计人员可直接针对这些区域采取加固措施。

揭示脉宽展宽机制

实验观察到的OR门链SET脉宽展宽效应由仿真阐明机理，为预测错误传播提供依据。

触发器对频率不敏感

触发器SEU率对时钟频率不敏感，意味着高频工作时触发器错误率基本稳定，设计约束得以简化。

应用场景

• 航天电子抗辐射设计：用标测数据定位抗辐射弱点，针对性加固星载芯片。
• 单粒子效应测试：提供脉冲激光标测方案与参数，加速单粒子效应评估。
• FDSOI工艺可靠性：揭示FDSOI工艺中SET传播特性，指导工艺可靠性优化。