α粒子软错误评估法

低成本高可靠

针对继保装置单粒子效应的低成本评估方法，融合辐射、注入与树分析，确保评估精度的同时无需昂贵实验。

Zhou, Hualiang · Yu, Hao · Yang, Weitao · He, Chaohui

Micromachines 2025

技术优势

成本大幅降低

采用蒙特卡洛仿真与故障注入，无需昂贵的大型辐射设施即可评估SEE风险。

三重验证更可信

仿真结果通过α粒子辐射、故障注入和故障树分析三种独立手段交叉验证。

可评估加固效果

评估SEE在有加固措施和无加固措施两种情况下的影响，为设计决策提供依据。

应用场景

• 继保装置软错误管理：量化继保装置软错误风险，指导针对性加固。
• 芯片SEE加固验证：用故障注入和辐射数据验证芯片加固措施是否有效。
• 辐射环境设备评估：以低成本评估设备在α粒子环境下的SEE可靠性。
• 电力设备可靠性分析：为电力设备提供考虑软错误的可靠性评估新方法。