自校准双折射测量仪

灵敏度高且自校准

基于各向异性激光反馈偏振效应，能同时解调相位延迟和快轴方位角，并利用自身物理现象实现自校准，简化安装调试，适用于多种双折射测量场景。

Shiwei, Deng · Xunda, Chang · Jiayu, Wang · 王逸凡 · 徐心 · 李克武 · 谈宜东 · Hu, Guangwei

PhotoniX 2025

参数信息

相位延迟标准差

0.0453 °

快轴方位角标准差

0.0939 °

最小允许样品透过率

1e-5

技术优势

同时测量两种参数

利用各向异性激光反馈偏振效应，在统一的偏振调制与分析架构下即可同时解调出相位延迟和快轴方位角。

高灵敏度

静态双折射测量中相位延迟标准差低至 0.0453°，快轴方位角标准差低至 0.0939°。

适用于极低透过率样品

系统最小允许样品透过率约为 10⁻⁵，可测量高损耗或深色光学材料。

自校准无需复杂调整

利用系统自身的物理现象进行校准，降低了安装时的对准误差。

应用场景

• 精密光学测量：为精密光学测量提供高精度、自校准的双折射参数获取手段。
• 光学材料表征：可同时获得材料相位延迟和快轴方位角，加速光学材料表征流程。
• 微纳制造检测：适合检测微纳制造中透明或低透过率结构的双折射分布。
• 生物样品检测：能对低透过率生物样品进行无损双折射测量，支持病理或结构分析。