无损精确定位焊点裂纹
将时域反射技术集成入SiP封装,在不破坏器件的前提下精确定位内部焊点开裂位置,适用于高密度封装的失效分析。
Xiao, Hui · Guo, Xiaotong · Chen, Fangzhou · 张伟玮 · 刘皓 · Chen, Zejian · Liu, Jiahao
Microelectronics International 2023
实验结果表明TDR技术能够准确定位SiP器件内部焊点开裂位置。
不仅定位失效点,还通过测量信号传输速率实现定量分析,为失效机理判断提供数据支撑。