循环寿命可预测
基于隐马尔可夫模型的耐久性预测方法，可提前预测不同失效模式的寿命，并基于预测结果优化编程算法以拯救失效单元，降低芯片失效率。
Zheng, Xu · Lizhou, Wu · Dong, Danian · 玉洁 · Lai, Jinru · Wunxuan, Sun · 薛晓勇 · Bing, Chen · Wan, Pang · 许晓欣
IEEE Electron Device Letters 2023
基于HMM的状态转移模型可提前500个循环预测不同失效模式的寿命，为干预留出时间窗口。
模型预测准确率达83.6%，基于28nm 1Mbit RRAM芯片实测数据，包含外围电路噪声与器件随机性。
根据预测结果优化编程算法，可在5000次循环后使存储芯片失效率降低38%，拯救失效单元。