GIS环氧绝缘材料

经X射线辐照后绝缘性能仅轻微下降，且陷阱能级变浅，表面电荷消散加快，有利于设备绝缘安全。

Zhang, Guobao · Wei, Yang · Weimin, Huang · 吴正阳 · 杨熙 · Tong, Hui

Gaodianya Jishu/High Voltage Engineering 2025

具体参数

介电性能开始劣化时间
{'zh': '10', 'en': '10'} min
体积电阻率开始劣化时间
{'zh': '10', 'en': '10'} min

技术优势

辐照后绝缘性能仅轻微下降

即使介电性能和体积电阻率在10 min后开始劣化，整体绝缘性能仍保持稳定，表明材料能耐受一定剂量的X射线。

陷阱能级变浅加速电荷消散

辐照后陷阱能级变浅，表面电荷消散程度和速率加剧，有助于消散绝缘器件表面空间电荷，降低局部电场集中风险。

应用场景