微米级全景成像
面向7–17 mm孔径的内壁可视化检测系统,以全景拼接和定量标定替代传统间接测量,实现微米级缺陷辨识。
Yichen, Xu · Kang, Jiehu · Sun, Zefeng · Zhao, Benhua · Yongli, Wang · Feng, Luyuan · Zhao, Zongyang · 张振 · Jian, Liang · Ren, Yuqi · Yifei, Chen · Haokai, Wu · 吴斌
Measurement: Journal of the International Measurement Confederation 2026
基于数值孔径和相对照度的定量设计,系统光学分辨率达12.622 μm,可检出微小缺陷。
基于线扩散函数的像素当量标定误差小于3.146 nm/pixel,保障定量测量准确性。
通过全景成像技术获取深孔内壁完整展开图,并集成YOLOv5s实现线宽自动测量。
可测量长度达76.296 mm,对应最大长径比10.857,覆盖常见小孔深腔。