EMNZ超材料液晶测量器件

单磁场测双取向

用EMNZ超材料增强灵敏度，只需一个偏置磁场就能同时测量液晶水平和垂直取向的复介电常数，无需取向层和复杂偏置电路。

Ding, Chang · 穆慧琳 · 薛春华 · 孟繁义 · 王甲富

IEEE Sensors Journal 2024

参数信息

复介电常数测量频率

4.6 GHz

技术优势

单磁场测两个取向

由于所用结构的旋转对称性，只需一个偏置磁场，将含液晶的掺杂结构旋转90°即可让液晶分子在水平和垂直两个方向排列。

省掉取向层和偏置电路

该方法不需要取向层和复杂偏置电路，比现有方法更简单高效。

测量灵敏度高

EMNZ超材料的高灵敏度使得液晶样品的传输特性可以被准确表征。

应用场景

• 微波介电测量：用微扰法从S参数计算复介电常数，适合微波频段材料测试。
• 液晶材料表征：无需取向层即可测取向态介电常数，简化液晶材料表征流程。
• 超材料微波应用：利用EMNZ超材料的灵敏度增强微波传感，扩展超材料应用。
• 电磁参数测试：测量各向异性材料复介电常数，提供准确的电磁参数数据。