粗糙度<0.1 nm RMS
一种非破坏性的原子级材料去除方法,能够在硬脆材料上实现无亚表面损伤的超光滑表面,并消除微米到纳米尺度的空间波长误差。
Weihao, Ma · Li, Jiahui · 张鑫泉 · 任明俊 · 侯溪
Journal of Materials Processing Technology 2025
通过非破坏性原子级材料去除方式,抛光后单晶硅表面和内部晶格保持完整。
微米划痕实验揭示了EEM平滑和展平缺陷的机制,证明其能有效消除微米级划痕。
EEM能够对亚毫米微结构进行保形抛光,保持微结构形貌的同时实现超光滑表面。