HF预富集钼同位素分析

低钼碳酸盐高精度

采用氢氟酸预富集结合DGA树脂分离,为低钼碳酸盐岩的钼同位素分析提供了简化高效的前处理方案,显著降低基体干扰。

Yan, Han · 周炼 · Anping, Hu · Feng, Lanping · 沈安江 · 胡兆初

Analytica Chimica Acta 2025

具体参数

基体去除率
{'zh': '97', 'en': '97'} %
流程空白
{'zh': '100', 'en': '100'} pg
样品量
{'zh': '10', 'en': '10'} ng

技术优势

基体去除率高

氢氟酸预富集可去除超过97%的主要基体元素(Ca、Mg、Al),大幅降低后续分离负担。

流程空白低

方法流程空白低于100 pg Mo,相对典型样品量(>10 ng Mo)可忽略,保障低钼样品的数据质量。

简化流程

将传统多步色谱分离简化为氢氟酸预富集加单步DGA树脂分离,省去繁琐步骤。

标准物质数据空白填补

首次报道了七种碳酸盐标准物质的钼同位素数据,为后续实验室比对和方法验证提供基准。

应用场景