召回率提升22%
通过磁盘采样邻域和随机游走，同时捕捉局部表面的空间分布与拓扑结构，有效提取轮廓特征点。
张雨禾 · Zhikun, Tu · Zhi, Li · Gao, Jian · Guo, Bao · 张顺利
Information Sciences 2025
通过在磁盘采样邻域上进行随机游走，同时捕捉局部表面的空间分布、拓扑特性和几何特征，从而更全面地识别特征点。
精确率达到 0.784，与高召回率同时实现，表明提取的特征点既全面又准确。
在八个评估指标上显著超越多种传统方法和深度学习方法，无需大量训练数据即可达到更高性能。