TNSs@PDA介电填料

超低加载率

多巴胺修饰的二氧化钛纳米片,以0.2 wt%超低加载率提高聚合物介电常数并降低损耗,缓解介电常数与击穿强度的负耦合效应。

ZiXuan, Chen · Linwei, Zhu · Chuanchuan, Wang · 燕克兰 · 史志成 · 范润华 · 暴宁钟

Journal of Energy Storage 2025

具体参数

介电常数
{'zh': '11.94', 'en': '11.94'}
介电损耗
{'zh': '0.038', 'en': '0.038'}
击穿强度
{'zh': '599.3', 'en': '599.3'} kV/mm
放电能量密度
{'zh': '9.97', 'en': '9.97'} J/cm3
能量存储效率
{'zh': '82', 'en': '82'} %
介电损耗
{'zh': '0.025', 'en': '0.025'}

技术优势

超低加载率

只需0.2 wt%的填料即可显著提高介电常数,避免高填充量带来的加工难题和机械性能下降。

介电损耗降低

在提高介电常数的同时,将介电损耗降至0.025(三明治结构),减少能量耗散。

高效储能

能量存储效率达82%,表明充放电过程中能量损失小,适合实际应用。

应用场景