高反光表面完整重建
借助互补格雷码曝光序列与融合算法，在高反光工件上同时避免局部过曝与欠曝，比现有HDR方法获得更完整准确的三维轮廓。
Cheng, Tianle · Qin, Long · Yulong, Li · Jialong, Hou · 肖昌炎
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 2024
利用自适应多曝光成像与融合，在反射率剧烈变化的表面生成可用于解码的条纹，避免局部过曝与欠曝。
在真实工件上的对比实验表明，所提方法在轮廓精度和完整度上优于现有HDR方法。
曝光序列通过先验差分阈值和停止准则迭代计算，无需人工试凑曝光参数。
融合算法由正负条纹的差异引导，能有效生成高动态范围响应图像供解码。