交叉耦合18T SRAM

抗单点翻转

采用NMOS堆叠结构和冗余晶体管构建反馈回路,实现低功耗与抗单节点翻转,适用于高可靠性存储应用。

蔡烁 · Yan, Wen · Jiangbiao, Ouyang · 王伟征 · 余飞 · 李博

Microelectronics Journal 2023

参数信息

平均功耗降低
30 %
读访问时间降低
9.27 %
写访问时间降低
10.35 %

技术优势

单点翻转全恢复

通过冗余晶体管构成的反馈回路,能够完全恢复单节点翻转,部分恢复双节点翻转。

功耗降三成

NMOS堆叠结构降低漏电,平均功耗比多种抗辐射SRAM降低30%。

读写都更快

读访问时间平均缩短9.27%,写访问时间平均缩短10.35%。

应用场景