平面二维电容位移传感器

大面积高精度测量

采用时栅技术,无需大面积二维衍射光栅即可实现平面二维位移测量。

彭凯 · Zhizhao, Deng · 刘小康 · Wang, Hewen · Yu, Zhicheng

IEEE Transactions on Industrial Electronics 2023

参数信息

Measurement error
8.2 μm
Measurement error
6.8 μm

技术优势

无需二维光栅

利用时栅技术的一维高精度,避免了大面积高精度二维衍射光栅的制造难题。

标准PCB工艺制造

传感器采用标准印刷电路板技术制造,便于复制和集成。

应用场景