高取向AlN薄膜

表面粗糙度低至0.32 nm

通过正偏压调控反应磁控溅射,在蓝宝石基板上获得沿(002)方向择优取向、表面致密均匀的AlN薄膜,其晶体质量与表面品质显著优于常规工艺,适用于高频声表面波器件。

杜勇 · Li, Tiejun · 邵桂芳

Micromachines 2025

参数信息

RMS表面粗糙度
0.32 nm

技术优势

表面粗糙度最低0.32 nm

在100 V正偏压下,AlN薄膜表面达到最低RMS粗糙度,显著提升表面质量,有利于SAW器件的传播损耗降低。

(002)择优取向增强

随着偏压增加,XRD分析显示(002)衍射峰强度增强,表明晶体沿c轴取向更优,有利于提高压电性能。

应用场景