LithoHoD布局热点检测框架

仿真引导检测更准

融合光刻仿真与目标检测网络,同时学习潜在形变和已知缺陷模式,提升对真实版图热点的泛化能力。

Shao, Haochiang · Guan-Yu, Chen · Yu-Hsien, Lin · Lin, Chiawen · Fang, Shaoyuan · Tsai, Pin Yian · Liu, Yanhsiu

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 2024

技术优势

仿真引导更易泛化

融合光刻仿真器估计的潜在形变和已知缺陷模式,不再只认得训练数据中的热点,对真实场景的泛化能力更强。

兼顾物理与经验

检测依据包括电路形状变形的物理估计,而非仅依赖学习到的缺陷模式,提升对未见版图的鲁棒性。

应用场景