粗糙度降至27.6 nm
利用磁流变剪切增稠抛光,在硬脆SiC衬底上实现超精密表面,无需化学腐蚀。
Xifeng, Ma · 田业冰 · Cheng, Qian · Ma, Zhen · Ahmad, Shadab · Ling, Li · Fan, Zenghua
Ceramics International 2024
表面粗糙度从1.414 μm改善到27.6 nm,跨越从微米到纳米量级。
采用纯机械的磁流变剪切增稠抛光机制,避免使用腐蚀性化学品。
多磁极耦合工具在抛光区域产生强磁场,增强抛光介质的剪切增稠效果。