高电子迁移率锗薄膜
室温迁移率近2000
在硅衬底上直接生长的锗薄膜,通过界面位错实现应变弛豫,以低位错密度换取超高室温载流子迁移率。
Jieyin, Zhang · 李明 · Liangxin, Liao · Xin, Geng · Zhang, Xinding · 张建军
Nanomaterials 2026
具体参数
- 室温霍尔迁移率高
- {'zh': '1916', 'en': ''} cm²V⁻¹s⁻¹
- 载流子浓度
- {'zh': '1.425 × 10¹⁶', 'en': ''} cm⁻³
- 表面粗糙度
- {'zh': '0.187', 'en': ''} nm
- 穿透位错密度仅
- {'zh': '1.2 × 10⁷', 'en': ''} cm⁻²